2 402 202 книги
Поиск
Жанры
Книги
Категории и жанры
Лучшие книги
Библиотека
Помощь
Мобильная версия
Контакты
Как помочь?
libcats.org
Самая большая
электронная библиотека
рунета. Поиск книг и журналов
↓
Только точные совпадения
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
Автор:
Alvin W. Strong
, Автор:
Ernest Y. Wu
, Автор:
Rolf-Peter Vollertsen
, Автор:
Jordi Sune
, Автор:
Giuseppe La Rosa
, Автор:
Timothy D. Sullivan
, Автор:
Stewart E. Rauch III
Размер книги: 5.38 Mb